G655 Modu bakarreko zuntz optikoa
Deskribapen laburra:
DOF-LITETM (LEA) Modu bakarreko zuntz optikoa Zero Dispertsioa Desplazatutako Zuntz bat da (NZ-DSF) eremu eraginkor handiarekin.
DOF-LITETM (LEA) ezin hobea da datu-tasa handiko eta uhin-luzera anitzeko ibilaldi luzerako transmisiorako.Eremu eraginkor handi bat du potentziaren kudeaketa hobetzeko eta dispertsioa optimizatutako uhin-luzera trinkoaren zatiketa multiplexatzeko (DWDM).Egokia da
C banda konbentzionalean (1530-1565 nm) eta L bandan (1565-1625 nm) transmisiorako.DOF-LITETM (LEA) egungo 2,5 Gb/s-ko eta 10 Gb/s-ko kanal-kopuru handiko sistemen eskakizunak gainditzen ditu, eta hurrengo belaunaldiko 40 Gb/s-ko datu-tasarako migrazioa onartzen du.
DOF-LITETM-ek (LEA) eremu eraginkor handi bat dauka potentzia hobetzeko eta dispertsioa uhin-luzera trinkoaren zatiketa multiplexatzeko (DWDM).Konbinazio honek transmisio-efektu ez-linealen agerpena murrizten du, hala nola lau uhinen nahasketa eta autofasearen modulazioa, eta, aldi berean, sakabanaketa-konpentsazioen kostua eta konplexutasuna murrizten ditu.
| Atenuazioa | ≤ 0,22 dB/km 1550 nm-an/ ≤ 0,24 dB/km 1625 nm-tan |
| Modu eremuaren diametroa 1550 nm-tan | 9,6 ± 0,4 µm |
| Kable mozketaren uhin-luzera | ≤ 1450 nm |
| Dispertsio-malda 1550 nm-tan | ≤ 0,09 ps/nm2.km |
| Dispertsioa 1460 nm-tan | -4,02 eta 0,15 ps/nm.km |
| Dispertsioa 1530 nm-tan | 2,00-4,00 ps/nm.km |
| Dispertsioa 1550 nm-tan | 3,00-5,00 ps/nm.km |
| Dispertsioa 1565 nm-tan | 4,00-6,00 ps/nm.km |
| Dispertsioa 1625 nm-tan | 5,77tik 11,26 ps/nm.km |
| Zuntz polarizazio modua dispertsio-lotura diseinuaren balioa* | ≤ 0,15 ps/√km |
| Estalduraren diametroa | 125,0 ± 1,0 µm |
| Nukleoak estalitako zentrokidetasun errorea | ≤ 0,5 µm |
| Estaldura ez-zirkulartasuna | ≤ % 1,0 |
| Estalduraren diametroa (kolorerik gabekoa) | 242 ± 5 µm |
| Estaldura-estaldura zentrokidetasun errorea | ≤ 12 µm |
| * PMD indibidualaren balioak alda daitezke kableatzean | |
| Froga probaren mailak | ≥ 100 kpsi (0,7GN/m2).Hau %1 tentsioaren baliokidea da |
| Estaldura-zerrenda-indarra (Estaldura bikoitza mekanikoki kentzeko indarra) | ≥ 1,3 N (0,3 lbf) eta ≤ 5,0 N (1,1 lbf) |
| Zuntz kizkurra | ≥ 4 m |
| Makro bihurgunearen galera: tolesturarekin duen atenuazio maximoak ez ditu balio espezifikoak gainditzen ondorengo hedapen-baldintzekin. | |
| Zabaltze-baldintza | Uhin-luzera | Induzitutako atenuazioa |
| 1 bira, 16 mm (0,6 hazbete) erradioa | 1625 nm | ≤ 0,50 dB |
| 100 bira, 30 mm (1,18 hazbete) erradioa | 1625 nm/1550 nm | ≤ 0,10 dB/≤ 0,05 dB |
| Tenperaturaren menpekotasuna Induzitutako atenuazioa, -60 °C eta +85 °C 1550, 1625 nm | ≤ 0,05 dB/km |
| Tenperatura-hezetasunaren zikloa Induzitutako atenuazioa, -10 °C eta +85 °C eta % 95eko hezetasun erlatiboa 1550, 1625 nm-tan | ≤ 0,05 dB/km |
| Tenperatura eta hezetasun handiko zahartzea 85 °C % 85 RH-an, 30 egun Atenuazioa induzitua 1550, 1625 nm-ra zahartzearen ondorioz | ≤ 0,05 dB/km |
| Uretan murgiltzea, 30 egun Induzitutako atenuazioa 23±2°C-tan 1550, 1625 nm-tan murgiltzearen ondorioz | ≤ 0,05 dB/km |
| Zahartze bizkortua (Tenperatura), 30 egun Tenperatura zahartzearen ondoriozko atenuazioa 85±2°C-tan 1550,1625 nm-tan | ≤ 0,05 dB/km |
| Errefrakzio talde eraginkorraren indizea | 1.470 1550 nm-ra |
| Atenuazioa 1525 - 1575 nm-ko uhin-luzera eskualdean 1550 nm-ko atenuazioari dagokionez | ≤ 0,05 dB/km |
| Puntu etenak 1550 nm eta 1625 nm-tan | ≤ 0,05 dB |
| Neke dinamikoaren parametroa (Nd) | ≥ 20 |
| Eremu eraginkorra | 70 µm2 |
| Luzera unitateko pisua | 64 g/km |
| *Balio tipikoak | |
| Bidalketa bobinaren brida-diametroa | 23,50 cm (9,25 hazbete) edo 26,5 cm (10,4 hazbete) |
| Bidalketa bobina upelaren diametroa | 15,24 cm (6,0 hazbete) edo 17,0 cm (6,7 hazbete) |
| Bidalketa bobina zeharbide zabalera | 9,55 cm (3,76 hazbete) edo 15,0 cm (5,9 hazbete) |
| Bidalketa bobinaren pisua | 0,50 kg (1,36 lb) edo 0,88 kg (1,93 lb) |
| Bidalketa-luzera: bobina bakoitzeko luzera estandarra 25,2 km-ra arte eskuragarri.bobina bakoitzeko luzerak bezeroen eskaeraren arabera ere eskuragarri daude | |
Fabrikazio-prozesuaren fase guztiak kontrolatzen ditugu, kalitatea zuntz-metro guztietan barnean egon dadin, probaren bidez amaieran hautatu beharrean.Fabrikazio-prozesuaren zehaztasuna eta zehaztasuna bermatzeko, prozesu-ekipoak eta neurketa-bankuak normaltasunez kalibratzen eta berritzen ditugu NPL/NIST-en nazioartean traza daitezkeen estandarren arabera, eta EIA/TIA, CEI-IEC eta ITU arauekin bat datozen proba-metodoak jarraitzen ditugu.
DOF-LITETM (LEA) ITU-T G655 C & D Zuntz Optikoaren Zehaztapena betetzen du.
● Lurreko sareetarako zuntz optikoaren gama osoa
● Mundu osoko salmenta-laguntza
● Web bidezko eskaeren jarraipena eta bezeroarentzako laguntza Laguntza tekniko espezializatua
Gure konpainiaren etengabeko hobekuntza politikak zehaztapenak aldatzea eragin dezake aldez aurretik jakinarazi gabe.Gure produktuari buruzko edozein motatako bermerik gure enpresaren eta produktu horien erosle zuzenaren arteko idatzizko akordioan bakarrik dago jasota.
- English
- French
- German
- Portuguese
- Spanish
- Russian
- Japanese
- Korean
- Arabic
- Irish
- Greek
- Turkish
- Italian
- Danish
- Romanian
- Indonesian
- Czech
- Afrikaans
- Swedish
- Polish
- Basque
- Catalan
- Esperanto
- Hindi
- Lao
- Albanian
- Amharic
- Armenian
- Azerbaijani
- Belarusian
- Bengali
- Bosnian
- Bulgarian
- Cebuano
- Chichewa
- Corsican
- Croatian
- Dutch
- Estonian
- Filipino
- Finnish
- Frisian
- Galician
- Georgian
- Gujarati
- Haitian
- Hausa
- Hawaiian
- Hebrew
- Hmong
- Hungarian
- Icelandic
- Igbo
- Javanese
- Kannada
- Kazakh
- Khmer
- Kurdish
- Kyrgyz
- Latin
- Latvian
- Lithuanian
- Luxembou..
- Macedonian
- Malagasy
- Malay
- Malayalam
- Maltese
- Maori
- Marathi
- Mongolian
- Burmese
- Nepali
- Norwegian
- Pashto
- Persian
- Punjabi
- Serbian
- Sesotho
- Sinhala
- Slovak
- Slovenian
- Somali
- Samoan
- Scots Gaelic
- Shona
- Sindhi
- Sundanese
- Swahili
- Tajik
- Tamil
- Telugu
- Thai
- Ukrainian
- Urdu
- Uzbek
- Vietnamese
- Welsh
- Xhosa
- Yiddish
- Yoruba
- Zulu
- Kinyarwanda
- Tatar
- Oriya
- Turkmen
- Uyghur